| 型号：SN74BCT8374ADWR | 类别：逻辑 - 专用逻辑 | 制造商：Texas Instruments |
| 封装：24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 描述：IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC | |
详细参数
| 类别 | 逻辑 - 专用逻辑 |
|---|---|
| 描述 | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC |
| 系列 | 74BCT |
| 制造商 | Texas Instruments |
| 逻辑类型 | 扫描测试设备，带 D 型边沿触发式触发器 |
| 电源电压 | 4.5 V ~ 5.5 V |
| 位数 | 8 |
| 工作温度 | 0°C ~ 70°C |
| 安装类型 | 表面贴装 |
| 封装/外壳 | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） |
| 供应商器件封装 | 24-SOIC |
| 包装 | 带卷 (TR) |
供应商
| 深圳市合一方科技有限公司 | 陈先生13480301972 |
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